光學薄膜設(shè)計的重大變革：Philip Baumeister于1958年提出將設(shè)計問題轉(zhuǎn)換為優(yōu)化問題來考慮。
而優(yōu)化問題則由一系列設(shè)計參數(shù)（通常為層厚度）構(gòu)成的評價函數(shù)來表達，使評價函數(shù)最小化則為膜系設(shè)計的目標。
對于一膜系設(shè)計，已完成優(yōu)化后，則層數(shù)和厚度已固定。若仍沒有達到預計設(shè)計目標（即評價函數(shù)并不是足夠?。?，此時一般優(yōu)化方法難以再進一步進行優(yōu)化(此時再優(yōu)化還是會返回原優(yōu)化狀態(tài))。針式優(yōu)化則通過在膜系中插入一薄層（針式層）來改變層數(shù)，從而達到進一步優(yōu)化的目的。
莫斯科大學的亞歷山大教授于1982年發(fā)明了針式優(yōu)化技術(shù)，這一核心技術(shù)使得Optilayer運算速度比同時期的任何一款設(shè)計軟件都要快數(shù)百倍。
下圖中圖1為一優(yōu)化后的三層膜的折射率剖面圖，其用一般優(yōu)化已無法再進一步進行優(yōu)化。故而通過插入一針式層來優(yōu)化，如圖2所示：
圖1. z方向為厚度，n(z)為折射率。
圖2. 在薄膜中某一厚度位置插入一折射率為n的狹長薄膜層。
上圖中最左側(cè)為基底折射率，最右側(cè)為入射媒介，兩陰影區(qū)為針式變量(needle varition)。